Kagami Memorial Research Institute for Materials Science and Technology早稲田大学 各務記念材料技術研究所

Facility

研究設備

Analytical Instrument Laboratory

分析機器室設備

※試料前処理については「設備ごとの必須試料前処理について」をご確認下さい。

分析設備一覧

 

電界放出形走査透過電子顕微鏡
【型番】JEM-2100F
【所内略称】FE-STEM
【学外者の共同利用】可
透過電子顕微鏡 (300kV)
【型番】JEM-3010
【所内略称】TEM300keV
【学外者の共同利用】可
透過電子顕微鏡 (200kV)
【型番】JEM-2010
【所内略称】TEM200keV
【学外者の共同利用】可
透過電子顕微鏡 (120kV)
【型番】JEM-1400Flash
【所内略称】TEM120keV
【学外者の共同利用】可
透過電子顕微鏡 (100kV)
【型番】JEM-1010
【所内略称】TEM100keV
【学外者の共同利用】可
電界放出形走査電子顕微鏡
【型番】JSM-6500F
【所内略称】FE-SEM 6500F
【学外者の共同利用】可
電界放出形走査電子顕微鏡
【型番】JSM-7001F
【所内略称】FE-SEM 7001F
【学外者の共同利用】可
電界放出形極低加速走査電子顕微鏡
【型番】JSM-7800F PRIME
【所内略称】FE-SEM 7800F
【学外者の共同利用】可
カソードルミネッセンス検出器
【型番】Mono CL3
【所内略称】CL
【学外者の共同利用】可
走査電子顕微鏡
【型番】JSM-5500
【所内略称】LV-SEM
【学外者の共同利用】可
電子プローブ微小部分析装置
【型番】JXA-8230
【所内略称】EPMA
【学外者の共同利用】可
電界放出形オージェ電子分光装置
【型番】JAMP-9500F
【所内略称】FE-AES(EBSP)
【学外者の共同利用】可
後方散乱電子線回折装置
【型番】TSL-OIM7
【所内略称】FE-AES(EBSP)
【学外者の共同利用】可
光電子分光装置
【型番】JPS-9010
【所内略称】XPS(ESCA)
【学外者の共同利用】可
顕微フーリエ変換赤外分光システム
【型番】Auto IMAGE
【所内略称】顕微FT-IR
【学外者の共同利用】可
紫外可視分光光度計
【型番】Lambda 650
【所内略称】UV/VIS
【学外者の共同利用】可
動的光散乱式粒径分布測定装置
【型番】LB-550
【所内略称】DLSPSA
【学外者の共同利用】可
表面粗さ計
【型番】Dektak 6M
【所内略称】Dektak
【学外者の共同利用】可
蛍光X線分析装置(エネルギー分散形)
【型番】JSX-1000S
【所内略称】XRF
【学外者の共同利用】可
小角X線散乱測定装置
【型番】Nano-Viewer
【所内略称】SAXS
【学外者の共同利用】可
全自動水平型多目的X線回折装置
【型番】SmartLab
【所内略称】SmartLab
【学外者の共同利用】可
ホール効果測定器
【型番】HL5500IU
【所内略称】-
【学外者の共同利用】不可
3Dデジタルマイクロスコープ
【型番】VHX-5000
【所内略称】-
【学外者の共同利用】不可
光学顕微鏡 (カメラ付き)
【型番】L150
【所内略称】-
【学外者の共同利用】不可
落射蛍光顕微鏡システム
【型番】BX51
【所内略称】-
【学外者の共同利用】不可

 

 

試料作成装置一覧※集束イオンビーム加工装置のみ【学外者の共同利用】可

Page Top
WASEDA University

早稲田大学オフィシャルサイト(https://www.waseda.jp/fsci/zaiken/)は、以下のWebブラウザでご覧いただくことを推奨いたします。

推奨環境以外でのご利用や、推奨環境であっても設定によっては、ご利用できない場合や正しく表示されない場合がございます。より快適にご利用いただくため、お使いのブラウザを最新版に更新してご覧ください。

このままご覧いただく方は、「このまま進む」ボタンをクリックし、次ページに進んでください。

このまま進む

対応ブラウザについて

閉じる