※試料前処理については「設備ごとの必須試料前処理について」をご確認下さい。
 電界放出形走査透過電子顕微鏡【型番】JEM-2100F 【所内略称】FE-STEM 【学外者の共同利用】可 動画（YouTube） |
 透過電子顕微鏡 (300kV)【型番】JEM-3010 【所内略称】TEM300keV 【学外者の共同利用】可 |
 透過電子顕微鏡 (200kV)【型番】JEM-2010 【所内略称】TEM200keV 【学外者の共同利用】可 |
 透過電子顕微鏡 (120kV)【型番】JEM-1400Flash 【所内略称】TEM120keV 【学外者の共同利用】可 |
 電界放射形走査電子顕微鏡【型番】JSM-6500F 【所内略称】FE-SEM 6500F 【学外者の共同利用】可 |
 カソードルミネッセンス検出器【型番】Mono CL3 【所内略称】CL 【学外者の共同利用】可 |
 電界放射形走査電子顕微鏡【型番】JSM-7001F 【所内略称】FE-SEM 7001F 【学外者の共同利用】可 |
 電界放射形走査電子顕微鏡【型番】JSM-7800F PRIME 【所内略称】FE-SEM 7800F 【学外者の共同利用】可 |
 走査電子顕微鏡【型番】JSM-6510LA 【所内略称】SEM-EDS 【学外者の共同利用】可 |
 電子プローブ微小部分析装置【型番】JXA-8230 【所内略称】EPMA 【学外者の共同利用】可 |
 電界放出形ｵｰｼﾞｪ電子分光装置【型番】JAMP-9500F 【所内略称】FE-AES(EBSP) 【学外者の共同利用】可 |
 後方散乱電子線回折装置【型番】TSL-OIM7 【所内略称】FE-AES(EBSP) 【学外者の共同利用】可 |
 光電子分光装置【型番】JPS-9010 【所内略称】XPS(ESCA) 【学外者の共同利用】可 動画（YouTube） |
 フーリエ変換赤外分光システム【型番】Auto IMAGE 【所内略称】FT-IR 【学外者の共同利用】可 |
 エネルギー分散形蛍光X線装置【型番】JSX-1000S 【所内略称】XRF 【学外者の共同利用】可 動画（YouTube） |
 紫外可視分光光度計【型番】Lambda 650 【所内略称】UV/VIS 【学外者の共同利用】可 ※現在故障中 |
 動的光散乱式粒径分布測定装置【型番】LB-550 【所内略称】DLSPSA 【学外者の共同利用】可 |
 表面粗さ計【型番】Dektak 6M 【所内略称】Dektak 【学外者の共同利用】可 |
 ホール効果測定器【型番】HL5500IU 【所内略称】－ 【学外者の共同利用】不可 |
 小角X線散乱測定装置【型番】Nano-Viewer 【所内略称】SAXS 【学外者の共同利用】可 |
 全自動水平型多目的X線回折装置【型番】SmartLab 【所内略称】SmartLab（XRD） 【学外者の共同利用】可 動画（YouTube） |
 落射蛍光顕微鏡システム【型番】BX51 【所内略称】－ 【学外者の共同利用】不可 |
 デジタル３D顕微鏡【型番】VHX-5000 【所内略称】－ 【学外者の共同利用】不可 |
 光学顕微鏡 (カメラ付き)【型番】L150 【所内略称】－ 【学外者の共同利用】不可 |
| 区別 | 種類 | 装置名 | |
|---|---|---|---|
| 利用料金有料装置 （消耗品別） |
Gaイオン加工 | 
|
|
 集束イオンビーム加工装置(JIB-4000) |
|||
| Arイオン研磨 | イオンポリシング（クライオシステム搭載） | ||
| クライオイオンスライサ（クライオシステム搭載） | |||
| クロスセクションポリッシャ | |||
| 平面イオンミリング | |||
| 利用料金無料装置 （消耗品別) |
電解研磨 | テヌポール | |
| 機械研磨 | ハンディラップ | ||
| ダイヤラップ | |||
| ディンプルグラインダー | |||
| サンドブラスト | |||
| 自動研磨機 | |||
| 切断 | 超音波ディスクカッター | ||
| カッティング・マシーン | |||
| 精密カットグラインダー | |||
| 多機能ダイヤモンドワイヤーソー | |||
| 表面処理 | プラズマプラチナコーター | ||
| マグネトロンスパッタ（Pt） | |||
| カーボンコーター | |||
| 親水化処理装置 | |||
| イオンクリーナー | |||
| 物理測定 | 厚さ計測器 | ||
| 電子分析天秤 | |||
| 埋込装置 | 冷間埋込装置 | ||
| 熱間埋込装置 | |||
| その他 | 超音波洗浄器 | ||
| ホットプレート |
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