Kagami Memorial Research Institute for Materials Science and Technology早稲田大学 各務記念材料技術研究所

Facility

研究設備

Charge List for using Facilities

利用料金一覧

機械加工設備

装置名 メーカー 型番  利用料金
(時間)
グラファイト加工立形マシニングセンタ OKK GR400 無料
旋盤※ テクノワシノ LEO-80A 無料
旋盤※ テクノワシノ LR-55A 無料
フライス(ひざ型)※ 牧野 KVJP-55 無料
フライス(ベット型)※ 新潟 2UMD 無料
フライス(ひざ型)※ 静岡 SP-CH 無料
フライス(ひざ型・NC付)※ 大隈豊和 FMR-30 無料
ボール盤※ エンコー ESD-3500X 無料
ボール盤※ FBD 6AM 無料
平面研削盤 岡本 PSG-63DX 無料
帯鋸盤コンターマシン ラクソー L-400 無料
ファインカッター(3台) HEIWA HS-100
N-45
無料
カッティングラインダー FUTABA RCK-18 無料
両頭グランダー 日立工機 KBT10, R12-S 無料
シャーリング 相沢鉄工所 AST-612 無料
NCバンドソー DAITO GAⅢ410 無料
サイリスタ式高周波誘導炉 東芝 2000円
真空ガス置換炉 デンケン KDF-V50M 100円
電気炉(零囲気炉) YAMATO FP410 無料
電気炉(高温用) デンケン KDF1700 100円
電気炉(乾燥炉) YAMATO DK400 無料

 

機械試験機

装置名 メーカー 型番  利用料金
(時間)
コンピュータ計測制御式万能試験機(オートグラフ) 島津 AG-100kNC 200円
デジタル計測制御式万能材料試験機 東京衡機 RU300DN-TK21 200円
ビッカース硬さ計 松沢 DVK-2S 無料
微小硬さ計 島津 HMV-2000 無料
表面粗さ計 コサカ SE-30K 無料
万能投影機 ニコン V-12 無料
マイクロスコープ マイクロ DS-400CM-2M 無料

分析設備

装置名 メーカー/型番 請求明細表記  利用料金
(時間)
電界放出形走査透過電子顕微鏡(200kV)
◆エネルギー分散形X線分析装置(付属)
JEOL / JEM-2100F
JEOL / JED-2300T
FE-STEM
FE-STEM (EDS)
2000円
+500円
透過電子顕微鏡(300kV) JEOL / JEM-3010 TEM(300keV) 750円
透過電子顕微鏡(200kV)
◆エネルギー分散形X線分析装置(付属)
JEOL / JEM-2010
JEOL / JED-2300T
TEM(200keV)
TEM(200keV)EDS
500円
+250円
透過電子顕微鏡(120kV) JEOL / JEM-1400Flash TEM(120keV) 500円
透過電子顕微鏡(100kV) JEOL / JEM-1010 TEM(100keV) 250円
集束イオンビーム加工装置 JEOL / JIB-4000 FIB JIB-4000 5000円
電界放出形走査電子顕微鏡
◆エネルギー分散形X線分析装置(付属)
◆カソードルミネッセンス検出器(付属)
JEOL / JSM-6500F
JEOL / JED-2300F
Gatan / MONO CL3
FE-SEM 6500F
FE-SEM 6500F(EDS)
FE-SEM 6500F(CL)
750円
+250円
+250円
電界放出形走査電子顕微鏡
◆エネルギー分散形X線分析装置(付属)
JEOL / JSM-7001F
JEOL / JED-2300F
FE-SEM 7001F
FE-SEM 7001F(EDS)
750円
+250円
電界放出形極低加速走査電子顕微鏡 JEOL / JSM-7800F Prime FE-SEM 7800F 750円
走査電子顕微鏡 JEOL / JSM-5500 LV-SEM 250円
電子プローブ微小部分析装置
◆LaB6銃使用時
JEOL / JXA-8230 EPMA
EPMA(LaB6)
1000円
1500円
電界放出形オージェ電子分光装置
◆後方散乱電子線回折装置(付属)
JEOL / JAMP-9500F
TSL / TSL-OIM7
FE-AES(EBSP)
FE-AES(EBSP)
1500円
1500円
光電子分光装置 JEOL / JPS-9010 XPS(ESCA) 500円
顕微フーリエ変換赤外分光システム PerkinElmer / Auto IMAGE 顕微FT-IR 300円
紫外可視分光光度計
◆拡散反射ユニット
◆自動角度可変ユニバーサル
反射ユニット
PerkinElmer / Lambda 650
PerkinElmer / 積分球60mm
PerkinElmer / URA
UV/VIS
UV/VISアクセサリー
UV/VISアクセサリー
200円
+100円
+100円
動的光散乱式粒径分布測定装置 HORIBA / LB-550 DLSPSA 200円
表面粗さ計 ULVAC / Dektak 6M Dektak 100円
小角X線散乱測定装置 Rigaku / NANO Viewer SAXS 500円
全自動水平型多目的X線回折装置 Rigaku / SmartLab SmartLab
SmartLab(極低温)
SmartLab(高温)
300円
+300円
+300円

※依頼加工は1時間につき1000円の請求をいたします。
・フィルム等の消耗品は別途請求いたします。消耗品の請求金額は一般企業も同額となります。
・一般企業の方はこの料金の10倍の利用料を徴収いたします。また、無料装置についても1時間につ き
1000円の利用料金を徴収いたします。

 

 

Page Top
WASEDA University

早稲田大学オフィシャルサイト(https://www.waseda.jp/fsci/zaiken/)は、以下のWebブラウザでご覧いただくことを推奨いたします。

推奨環境以外でのご利用や、推奨環境であっても設定によっては、ご利用できない場合や正しく表示されない場合がございます。より快適にご利用いただくため、お使いのブラウザを最新版に更新してご覧ください。

このままご覧いただく方は、「このまま進む」ボタンをクリックし、次ページに進んでください。

このまま進む

対応ブラウザについて

閉じる