装置名 | メーカー | 型番 | 利用料金 (時間) |
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グラファイト加工立形マシニングセンタ | OKK | GR400 | 無料 |
旋盤※ | テクノワシノ | LEO-80A | 無料 |
旋盤※ | テクノワシノ | LR-55A | 無料 |
フライス(ひざ型)※ | 牧野 | KVJP-55 | 無料 |
フライス(ベット型)※ | 新潟 | 2UMD | 無料 |
フライス(ひざ型)※ | 静岡 | SP-CH | 無料 |
フライス(ひざ型・NC付)※ | 大隈豊和 | FMR-30 | 無料 |
ボール盤※ | エンコー | ESD-3500X | 無料 |
ボール盤※ | FBD | 6AM | 無料 |
平面研削盤 | 岡本 | PSG-63DX | 無料 |
帯鋸盤コンターマシン | ラクソー | L-400 | 無料 |
ファインカッター(3台) | HEIWA | HS-100 N-45 |
無料 |
カッティングラインダー | FUTABA | RCK-18 | 無料 |
両頭グランダー | 日立工機 | KBT10, R12-S | 無料 |
シャーリング | 相沢鉄工所 | AST-612 | 無料 |
NCバンドソー | DAITO | GAⅢ410 | 無料 |
サイリスタ式高周波誘導炉 | 東芝 | 2000円 | |
真空ガス置換炉 | デンケン | KDF-V50M | 100円 |
電気炉(零囲気炉) | YAMATO | FP410 | 無料 |
電気炉(高温用) | デンケン | KDF1700 | 100円 |
電気炉(乾燥炉) | YAMATO | DK400 | 無料 |
装置名 | メーカー | 型番 | 利用料金 (時間) |
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コンピュータ計測制御式万能試験機(オートグラフ) | 島津 | AG-100kNC | 200円 |
デジタル計測制御式万能材料試験機 | 東京衡機 | RU300DN-TK21 | 200円 |
ビッカース硬さ計 | 松沢 | DVK-2S | 無料 |
微小硬さ計 | 島津 | HMV-2000 | 無料 |
表面粗さ計 | コサカ | SE-30K | 無料 |
万能投影機 | ニコン | V-12 | 無料 |
マイクロスコープ | マイクロ | DS-400CM-2M | 無料 |
装置名 | メーカー/型番 | 請求明細表記 | 利用料金 (時間) |
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電界放出形走査透過電子顕微鏡(200kV) ◆エネルギー分散形X線分析装置(付属) |
JEOL / JEM-2100F JEOL / JED-2300T |
FE-STEM FE-STEM (EDS) |
2000円 +500円 |
透過電子顕微鏡(300kV) | JEOL / JEM-3010 | TEM(300keV) | 750円 |
透過電子顕微鏡(200kV) ◆エネルギー分散形X線分析装置(付属) |
JEOL / JEM-2010 JEOL / JED-2300T |
TEM(200keV) TEM(200keV)EDS |
500円 +250円 |
透過電子顕微鏡(120kV) | JEOL / JEM-1400Flash | TEM(120keV) | 500円 |
透過電子顕微鏡(100kV) | JEOL / JEM-1010 | TEM(100keV) | 250円 |
集束イオンビーム加工装置 | JEOL / JIB-4000 | FIB JIB-4000 | 5000円 |
電界放出形走査電子顕微鏡 ◆エネルギー分散形X線分析装置(付属) ◆カソードルミネッセンス検出器(付属) |
JEOL / JSM-6500F JEOL / JED-2300F Gatan / MONO CL3 |
FE-SEM 6500F FE-SEM 6500F(EDS) FE-SEM 6500F(CL) |
750円 +250円 +250円 |
電界放出形走査電子顕微鏡 ◆エネルギー分散形X線分析装置(付属) |
JEOL / JSM-7001F JEOL / JED-2300F |
FE-SEM 7001F FE-SEM 7001F(EDS) |
750円 +250円 |
電界放出形極低加速走査電子顕微鏡 | JEOL / JSM-7800F Prime | FE-SEM 7800F | 750円 |
走査電子顕微鏡 | JEOL / JSM-5500 | LV-SEM | 250円 |
電子プローブ微小部分析装置 ◆LaB6銃使用時 |
JEOL / JXA-8230 | EPMA EPMA(LaB6) |
1000円 1500円 |
電界放出形オージェ電子分光装置 ◆後方散乱電子線回折装置(付属) |
JEOL / JAMP-9500F TSL / TSL-OIM7 |
FE-AES(EBSP) FE-AES(EBSP) |
1500円 1500円 |
光電子分光装置 | JEOL / JPS-9010 | XPS(ESCA) | 500円 |
顕微フーリエ変換赤外分光システム | PerkinElmer / Auto IMAGE | 顕微FT-IR | 300円 |
紫外可視分光光度計 ◆拡散反射ユニット ◆自動角度可変ユニバーサル 反射ユニット |
PerkinElmer / Lambda 650 PerkinElmer / 積分球60mm PerkinElmer / URA |
UV/VIS UV/VISアクセサリー UV/VISアクセサリー |
200円 +100円 +100円 |
動的光散乱式粒径分布測定装置 | HORIBA / LB-550 | DLSPSA | 200円 |
表面粗さ計 | ULVAC / Dektak 6M | Dektak | 100円 |
小角X線散乱測定装置 | Rigaku / NANO Viewer | SAXS | 500円 |
全自動水平型多目的X線回折装置 | Rigaku / SmartLab | SmartLab SmartLab(極低温) SmartLab(高温) |
300円 +300円 +300円 |
※依頼加工は1時間につき1000円の請求をいたします。
・フィルム等の消耗品は別途請求いたします。消耗品の請求金額は一般企業も同額となります。
・一般企業の方はこの料金の10倍の利用料を徴収いたします。また、無料装置についても1時間につ き
1000円の利用料金を徴収いたします。