- 研究設備
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Charge List for using Facilities
利用料金一覧
機械加工設備
| 装置名 | メーカー | 型番 | 利用料金 (時間) |
|---|---|---|---|
| グラファイト加工立形マシニングセンタ | OKK | GR400 | 無料 |
| 旋盤※ | テクノワシノ | LEO-80A | 無料 |
| 旋盤※ | テクノワシノ | LR-55A | 無料 |
| フライス（ひざ型）※ | 牧野 | KVJP-55 | 無料 |
| フライス（ベット型）※ | 新潟 | 2UMD | 無料 |
| フライス（ひざ型）※ | 静岡 | SP-CH | 無料 |
| フライス（ひざ型・NC付）※ | 大隈豊和 | FMR-30 | 無料 |
| ボール盤※ | エンコー | ESD-3500X | 無料 |
| ボール盤※ | FBD | 6AM | 無料 |
| 平面研削盤 | 岡本 | PSG-63DX | 無料 |
| 帯鋸盤コンターマシン | ラクソー | L-400 | 無料 |
| ファインカッター（3台） | HEIWA | HS-100 N-45 |
無料 |
| カッティングラインダー | FUTABA | RCK-18 | 無料 |
| 両頭グランダー | 日立工機 | KBT10, R12-S | 無料 |
| シャーリング | 相沢鉄工所 | AST-612 | 無料 |
| NCバンドソー | DAITO | GAⅢ410 | 無料 |
| サイリスタ式高周波誘導炉 | 東芝 | 2000円 | |
| 真空ガス置換炉 | デンケン | KDF-V50M | 100円 |
| 電気炉（零囲気炉） | YAMATO | FP410 | 無料 |
| 電気炉（高温用） | デンケン | KDF1700 | 200円 |
| 電気炉（乾燥炉） | YAMATO | DK400 | 無料 |
①依頼加工は1時間につき1,000円の請求をいたします。
②一般企業の方は上記利用料金の10倍になります。また、無料装置は1時間につ き1,000円を請求いたします。
機械試験機
| 装置名 | メーカー | 型番 | 利用料金 (時間) |
|---|---|---|---|
| コンピュータ計測制御式万能試験機（オートグラフ） | 島津 | AG-100kNC | 200円 |
| デジタル計測制御式万能材料試験機 | 東京衡機 | RU300DN-TK21 | 200円 |
| ビッカース硬さ計 | 松沢 | DVK-2S | 無料 |
| 微小硬さ計 | 島津 | HMV-2000 | 無料 |
| 表面粗さ計 | コサカ | SE-30K | 無料 |
| 万能投影機 | ニコン | V-12 | 無料 |
| マイクロスコープ | マイクロ | DS-400CM-2M | 無料 |
①依頼加工は1時間につき1,000円請求いたします。
②一般企業の方は上記利用料金の10倍になります。また、無料装置は1時間につ き1,000円請求いたします。
分析設備
※2025年6月より以下の利用料金に改定いたしました。
| 装置名 メーカー/型番 |
請求明細 表記 |
利用時間（円／時間） | ||
|---|---|---|---|---|
| 学内 共同研究 |
共同利用 成果報告有 |
一般利用 成果報告無 |
||
| FE-SEM7800F（電界放射型極低加速走査電子顕微鏡） JEOL / JSM-7800F Prime |
FE-SEM 7800F |
1,500 | 3,000 | 15,000 |
| FIB-4000（集束イオンビーム加工装置） JEOL / JIB-4000 |
FIB-4000 /FIB |
5,000 | 10,000 | 50,000 |
| FIB-SEM（複合ビーム加工観察装置） JEOL / JIB-4700 |
FIB-SEM /FIB |
5,000 | 10,000 | 50,000 |
| /FE-SEM /EDS |
1,500 | 3,000 | 15,000 | |
| FE-SEM7001（電界放射型走査電子顕微鏡） JEOL / JSM-7001F , JED-2300F（EDS） |
FE-SEM 7001F |
1,000 | 2,000 | 10,000 |
| /EDS | 1,250 | 2,500 | 12,500 | |
| TEM200（透過型電子顕微鏡200） JEOL / JEM-2010 , JED-2300T（EDS） |
TEM200keV | 1,500 | 3,000 | 15,000 |
| FE-SEM6500（電界放射型走査電子顕微鏡） JEOL / JSM-6500F , JED-2300F Gatan / MONO CL3 |
FE-SEM 6500F |
1,000 | 2,000 | 10,000 |
| /EDS /CL |
1,250 | 2,500 | 12,500 | |
| EPMA（電子プローブ微小部分析装置） JEOL / JXA-8230 |
EPMA /LaB6 |
2,000 | 4,000 | 20,000 |
| FE-AES-EBSD（電界放出型オージェ電子分光装置）JEOL / JAMP-9500F | FE-AES (EBSD) |
2,500 | 5,000 | 25,000 |
| XPS（光電子分光装置） JEOL / JPS-9010 |
XPS(ESCA) | 500 | 1,000 | 5,000 |
| FE-STEM（(熱)電界放射型透過型分析電子顕微鏡） JEOL / JEM-2100F , JED-2300T（EDS） |
FE-STEM | 3,500 | 7,000 | 35,000 |
| TEM300（透過型電子顕微鏡300） JEOL / JEM-3010 |
TEM300keV | 2,500 | 5,000 | 25,000 |
| FT-IR（フーリエ変換赤外分光システム） PerkinElmer / Auto IMAGE |
FT-IR | 300 | 600 | 3,000 |
| DLS（動的光散乱式粒径分布測定装置） HORIBA / LB-550 |
DLSPSA | 200 | 400 | 2,000 |
| DEKTAK（表面粗さ計） ULVAC / Dektak 6M |
Dektak | 100 | 200 | 1,000 |
| TEM120（透過型電子顕微鏡JEM-1400Flash） JEOL / JEM-1400Flash |
TEM120keV | 1,000 | 2,000 | 10,000 |
| SEM-EDS（走査電子顕微鏡） JEOL / JSM-6510LA |
SEM-EDS | 500 | 1,000 | 5,000 |
| SAXS（ナノスケールＸ線構造評価装置） Rigaku / NANO Viewer |
SAXS | 500 | 1,000 | 5,000 |
| SmartLab（材料評価用Ｘ線回折装置） Rigaku / SmartLab |
SmartLab | 300 | 600 | 3,000 |
| /極低温 /高温 |
600 | 1,200 | 6,000 | |
| XRF（エネルギー分散型蛍光X線装置） JEOL / JSX-1000S |
XRF | 0 | 0 | 1,000 |
※消耗品は別途請求いたします。