Kagami Memorial Research Institute for Materials Science and Technology早稲田大学 各務記念材料技術研究所

その他

電子プローブ微小部分析装置

メーカー/型式

JEOL(日本電子)/JXA-8230

装置概要

電子線を細く収束させた電子プローブで走査電子顕微鏡の機能を使い、二次電子・反射電子像を観察しながら波長分散型の特性Ⅹ線分光器を用いて、点・線・面分析で表面の元素分析(定性、定量)を行う。
また、画像に対応した元素定量カラーマッピングや組成像を得ることができる。

主な仕様

分析可能元素:B-U
X線分光器数:5基
1CH     結晶:LDE1H、LDE2H  検出器:GPCH
2CH 結晶:LIFHS、PETHS    検出器:XPCH
3CH 結晶:LIF、PETJ    検出器:XPC
4CH 結晶:TAPJ、86LDE2    検出器:GPC
5CH 結晶:LDE1H、LDE2H  検出器:XPCH

設置場所

42-1号館207室

利用料金

1時間 1000円(Wフィラメント)
1時間 1500円(LaB6フィラメント)

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