メーカー/型式
JEOL(日本電子)/JXA-8230
装置概要
電子線を細く収束させた電子プローブで走査電子顕微鏡の機能を使い、二次電子・反射電子像を観察しながら波長分散型の特性Ⅹ線分光器を用いて、点・線・面分析で表面の元素分析(定性、定量)を行う。
また、画像に対応した元素定量カラーマッピングや組成像を得ることができる。
主な仕様
分析可能元素:B-U
X線分光器数:5基
1CH 結晶:LDE1H、LDE2H 検出器:GPCH
2CH 結晶:LIFHS、PETHS 検出器:XPCH
3CH 結晶:LIF、PETJ 検出器:XPC
4CH 結晶:TAPJ、86LDE2 検出器:GPC
5CH 結晶:LDE1H、LDE2H 検出器:XPCH
設置場所
42-1号館207室
利用料金
1時間 1000円(Wフィラメント)
1時間 1500円(LaB6フィラメント)