メーカー/型番
Perkin Elmer / Spectrum One
装置概要
不純物・異物等の有機物質の赤外吸収スベクトル分析が可能
各種アクセサリー使用により薄膜、粉末試料の吸収率、透過率等を測定可能
主な仕様
測定範囲：4000～550cm-1 分解能：4cm-1 S/N：4000/1（p-p） 20000/1（rms）
アクセサリー
◆RAS 高感度反射測定装置(角度固定) メーカー/型番 HARRICK/REFRACTOR2TM
金属基盤上の極薄フィルムのスペクトル測定に最適
測定範囲：4000～450cm-1 入射角：75°
◆Ge ATR メーカー/型番 HARRICK/GATRTM
半導体基盤上の極薄フィルムのスペクトル測定に最適（凹凸試料は不可）
測定範囲：4000～700cm-1
◆ユニバーサルATR（1回反射 ダイヤモンド/KRS5）
クリスタルダイヤモンド1mmφを表面に用いており傷がつきにくく固体、液体、粉体など広範囲のサンプルに対応可
測定範囲：4000～400cm-1入射角：47°
◆拡散反射ユニット
サンプル位置を自動に上下するオートフォーカス機能を搭載
粉体、粘着性のある試料、塗料等の分析に最適
設置場所
42-1号館214室
