メーカー/型番
JEOL（日本電子）/ JSX-1000S
使用概要
X線を試料に照射し、発生した蛍光X線を検出することで試料中の元素の種類や濃度を分析する装置。固体・粉末・薄膜など様々な試料の分析が可能で、標準試料無しに定量分析を行うことができる。
主な仕様
測定元素：F~U ターゲット：Rh，5~50kV，1mA コリメータ径：φ0.9mm，2mm，9mm
設置場所
42-1号館307室
利用料金
無料
JEOL（日本電子）/ JSX-1000S
X線を試料に照射し、発生した蛍光X線を検出することで試料中の元素の種類や濃度を分析する装置。固体・粉末・薄膜など様々な試料の分析が可能で、標準試料無しに定量分析を行うことができる。
測定元素：F~U ターゲット：Rh，5~50kV，1mA コリメータ径：φ0.9mm，2mm，9mm
42-1号館307室
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