エネルギー分散形蛍光X線分析装置（XRF）
- Posted
- 2018年11月27日(火)
メーカー/型番
JEOL（日本電子）/ JSX-1000S
使用概要
X線を試料に照射し、発生した蛍光X線を検出することで試料中の元素の種類や濃度を分析する装置。固体・粉末・薄膜など様々な試料の分析が可能で、標準試料無しに簡易定量分析を行うことができる。
主な仕様
測定元素：Na~U ターゲット：Rh，5~50kV，1mA コリメータ径：φ0.9mm，2mm，9mm
設置場所
42-1号館307室
