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電界放出形走査電子顕微鏡

電界放出形走査電子顕微鏡
Posted
2018年11月2日(金)

メーカー/型番

JEOL(日本電子)/JSM-6500F

装置概要

電界放出形電子銃搭載。(ショットキータイプ)
試料表面に電子線を照射し、表面構造を拡大、観察できる。
反射電子検出器を搭載、組成像と凹凸像を得ることができる。
◆オプションとしてエネルギー分散形X線分析装置 (EDS)を装備。
微小部の元素分析、元素マッピングを得ることができる。(元素範囲B~Uまで)
◆オプションとしてカソードルミネッセンス検出(MonoCL3:GATAN)を装備
波長分解CLスペクトル分析、波長分解CLイメージを得ることができる。(光学範囲:185 nm〜850 nm)

主な仕様

加速電圧:0.5 kV~30 kV
二次電子分解能:1.2 nm (30kV)

設置場所

42-1号館205室

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