小角Ｘ線散乱測定装置

メーカー/型番

RIGAKU/ NANO-Viewer

装置概要

X線小角散乱を解析することにより物質の分子、原子レベルの構造（形状、粒径、空隙、周期構造）を測定することができるナノスケールＸ線構造評価装置

主な仕様

回転対陰極型 Cu線源1.2kW 実効焦点サイズφ0.07mm
検出器：2次元半導体Ｘ線検出器（PILATUS 100K）

設置場所

42-3号館207室

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