Kagami Memorial Research Institute for Materials Science and Technology早稲田大学 各務記念材料技術研究所

その他

小角X線散乱測定装置

メーカー/型番

RIGAKU/ NANO-Viewer

装置概要

X線小角散乱を解析することにより物質の分子、原子レベルの構造(形状、粒径、空隙、周期構造)を測定することができるナノスケールX線構造評価装置

主な仕様

回転対陰極型 Cu線源1.2kW 実効焦点サイズφ0.07mm
検出器:2次元半導体X線検出器(PILATUS 100K)

設置場所

42-3号館207室

利用料金

1時間 500円

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WASEDA University

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