早稲田大学 各務記念材料技術研究所
Kagami Memorial Research Institute for Materials Science and Technology
JEOL(日本電子)/IB-09020CP
Arイオンビームを用いたバルク断面試料作製装置。試料はあらかじめ7mm×7mm×1mm(厚さ)程度に切り出す。繊維状、紛体、薄膜状の試料は別途前処理が必要となる。作製できる断面の大きさは1mm角程度。
42号館-1-310室
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