早稲田大学 各務記念材料技術研究所
Kagami Memorial Research Institute for Materials Science and Technology
サンユー電子㈱/SVM-730
機械研磨の最終仕上げであるバフ研磨を終えても試料表面は機械研磨時の応力を受けて結晶性の試料はひずみを生じている。これらのひずみをArイオンビームを試料表面に2°程度照射してイオンエッチングを行い研磨時のひずみを取り除く。
42-1号館 310号室
一覧へ戻る