早稲田大学 各務記念材料技術研究所
Kagami Memorial Research Institute for Materials Science and Technology
JEOL(日本電子)/ IB-09060CIS
数mm角(3×1mm)で厚さ100μm程度に切り出された試料の両面にArイオンビームを照射できるようにイオン銃を±5°程度傾斜させながら試料中央に穴があくまでイオンエッチングを行いTEMの試料作製を行う。液体窒素冷却雰囲気での加工も可能。
42-1号館 310号室
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