Kagami Memorial Research Institute for Materials Science and Technology早稲田大学 各務記念材料技術研究所

学内の方が初めて機器のご利用を希望される際は、【相談票】をご記入の上、
メールにて「[email protected]」まで送付してください。
各施設・装置担当から折り返しご連絡いたします。

※分析装置の「TEM120・FE-STEM・FIB-SEM・SEM-EDS・XRD」は利用者が多いので、
新規講習や依頼分析の対応は先の日程になる可能性がございます。

学外の方のご利用については、以下のページをご確認ください。

共同利用について

１．事前準備
【学内の方】
利用者が材料技術研究所のユーザーとして登録されている必要があります。
未登録の方はメールアドレス・研究室名・氏名・英名・学年を記載のうえ「[email protected]」までご連絡ください。

【学外の方】
共同利用者としてご登録ください。詳細は「共同利用について」をご確認ください。

２．予約手続きの流れ
【学内の方】
早稲田大学研究用共用機器利用「https://www.cf.waseda.ac.jp/」より手続きしてください。
※学内ネットワークからのみアクセス可能です。

【学外の方】
利用したい装置と複数の希望日を記載のうえ、「[email protected]」宛にご連絡ください。

※装置の予約は原則として隔週月曜日に実施している予約会から２週間までとなっております。
ご不明な点がありましたら「[email protected]」までお問合せください。

３．依頼分析について
以下の装置について依頼分析を希望される方は、測定依頼表を提出して担当職員と日程調整をしてください。

• 【測定依頼表】
  ・EPMA（電子プローブ微小部分析装置）　詳細 詳細
  ・FE-AES-EBSD（(熱)電界放出型オージェ電子分光装置）　詳細 詳細
  ・FE-SEM6500（(熱)電界放射型走査電子顕微鏡）　詳細 詳細
  ・FE-SEM7001（(熱)電界放射型走査電子顕微鏡）　詳細 詳細
  ・XPS（光電子分光装置）　詳細 詳細
  ・FE-SEM7800（(熱)電界放射型極低加速走査電子顕微鏡）　詳細 詳細
  ・FE-STEM（(熱)電界放射型透過型分析電子顕微鏡）　詳細 詳細
  ・FIB-SEM（JIB-4700 複合ビーム加工観察装置）　詳細 詳細