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Nanoscale characterization of advanced materials using synchrotron-based imaging techniques (2016/5/23)
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MON 2016- Place
- 西早稲田キャンパス55号館S棟2階第四会議室
- Time
- 15:30-17:00
- Posted
- 2016年4月23日(土)
演題：”Nanoscale characterization of advanced materials using synchrotron-based imaginig techniques”
日時：2016年5月23日 (月) 15:30-17:00
会場：西早稲田キャンパス55号館S棟2階第四会議室
講師：ピアネッタ ピエロ (スタンフォード際額 軌道放射光研究所 教授)
対象：学生、教職員、一般
参加方法：入場無料、直接会場へ
主催：先進理工学研究科 応用化学専攻
問合せ：早稲田大学 理工センター 総務課
TEL：03-5286-3000
- Tags
- イベント
