Faculty of Science and Engineering早稲田大学 理工学術院

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Nanoscale characterization of advanced materials using synchrotron-based imaging techniques (2016/5/23)

演題:”Nanoscale characterization of advanced materials using synchrotron-based imaginig techniques”

日時:2016年5月23日 (月) 15:30-17:00

会場:西早稲田キャンパス55号館S棟2階第四会議室

講師:ピアネッタ ピエロ  (スタンフォード際額 軌道放射光研究所 教授)

対象:学生、教職員、一般

参加方法:入場無料、直接会場へ

主催:先進理工学研究科 応用化学専攻

問合せ:早稲田大学 理工センター 総務課

TEL:03-5286-3000

Dates
  • 0523

    MON
    2016

Place

西早稲田キャンパス55号館S棟2階第四会議室

Tags
Posted

Sat, 23 Apr 2016

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