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主催：三菱マテリアル-早大理工学術院産学連携協議会
共催：早稲田大学各務記念材料技術研究所
テーマ 「マテリアルイノベーションを創出する最新分析評価技術」
2008年に三菱マテリアル株式会社と本学理工学術院は産学連携に係る包括協定を締結し、その活動の一環として、毎年ホットなテーマを採り上げ連携セミナーを開催しております。12年目を迎えた本年は、材料分析に関する最新評価技術を中心に以下の通り開催いたします。
1.日時
2019年11月22日(金) 13：00～17：25
2.会場
早稲田大学西早稲田キャンパス６３号館０３・０４・０５会議室
（東京都新宿区大久保３－４－１）
3.プログラム
| 時間 | 講座題目等 | 講師等(敬称略) |
|---|---|---|
| 13:00-13:05 | 開会挨拶 | 早稲田大学 理工学術院 連携協議会 早稲田側 幹事 教授 黒田 一幸 |
| 13:05-13:45 | ラマン分光分析を用いた有機半導体材料の分析評価技術 | 早稲田大学 理工学術院 先進理工学部 化学・生命化学科 教授 古川 行夫 |
| 13:45-14:25 | 光電子分光分析を活用した材料の分析評価技術 | 早稲田大学 理工学術院 先進理工学部 応用物理学科 教授 溝川 貴司 |
| 14:25-15:05 | X線吸収微細構造解析を活用した環境材料の評価 | 早稲田大学 理工学術院 創造理工学部 環境資源工学科 教授 所 千晴 |
| 15:05-15:20 | 休憩（コーヒーブレーク） | |
| 15:20-16:00 | 大型放射光施設(SPring-8)を活用した材料の分析評価技術 | 岡山大学 理学部 物理学科 教授 池田 直 |
| 16:00-16:40 | オージェ電子分光装置を用いた微小領域の化学状態分析 | 三菱マテリアル株式会社 中央研究所 副主任研究員 奥村 洋史 |
| 16:40-17:20 | ICP-MSを用いた高純度金属および半導体シリコン中の金属不純物の測定におけるマトリックス干渉の解決方法 | 三菱マテリアル株式会社 中央研究所 モハマッド B. シャバニー |
| 17:20-17:25 | 閉会挨拶 | 三菱マテリアル株式会社 中央研究所 所長 磯部 毅 |
| 17:30-19:00 | 交流会（63号館1階ロームスクエア） |
4.対象
本学学生・教職員、三菱マテリアル株式会社関係者、一般 / 参加費：無料（交流会含む）
5.定員
１００名程度（原則として受付先着順といたします）
6.申込手続き
個人：申込みフォームより直接もしくは問い合わせ先メールアドレスへお申込みください。メールの場合は氏名/連絡先/所属/メールアドレス/交流会出席可否をご記入願います。
研究室所属の方：以下の申込み用紙をダウンロードし、必要事項を記入後、代表者（学生の方可）からメールにて御連絡ください。
7.お問い合わせ
早稲田大学理工学術院 三菱マテリアル‐早大理工学術院産学連携協議会事務局（材料技術研究所）（担当: 仲川・三野）
〒169-0051 東京都新宿区西早稲田2-8-26
TEL 03-5286-3770 FAX 03-5286-3771
E-mail: mmcjimu_at_list.waseda.jp (※ _at_ は @ に置き換えてください。)
8．申込み締切
2019年11月11日（月）（目安、以降応相談）
会場へのアクセス
| 東京メトロ副都心線 | 西早稲田駅 3番出口（早大理工連絡口）直結 |
| JR山手線・東京メトロ東西線・西武新宿線 | 高田馬場駅 徒歩15分 |
| JR山手線 | 新大久保駅 徒歩12分 |
| 都営地下鉄大江戸線 | 東新宿駅 徒歩15分 |
| 都営バス（池86・早77・高71） | 早大理工前 |
