7月19日（金）に電気学会「ナノエレクトロニクス集積化・応用技術」調査専門委員会主催、早稲田大学ナノテクノロジーフォーラム共催にて、下記の通り「最先端CMOSイメージセンサ技術」をテーマにしました研究会を開催いたしますので、ご興味・ご関心ある方は是非、ご参加いただきますようお願い申し上げます。
- 日時
2013年7月19日(金) 14:00～17:00 - 会場
早稲田大学研究開発センター120-5号館 （ASMeW）1階会議室
〒162-0041 東京都新宿区早稲田鶴巻町513
MAP - プログラム
14:00-14:05 オープニング
14:05-14:50 「有機CMOSイメージセンサ技術」
・・パナソニック 森三佳様
15:00-15:45 「裏面照射型CMOSイメージセンサにおけるBackside DTI」
・・東芝 北村陽介様
15:55-16:40 「CIS Design Methodology」
・・ソニー 糸長総一郎様
16:40-17:00 綜合討論及びクロージング
＊終了後に場所を変えて懇親会を開催いたしますので、ぜひご出席ください。
＜本件担当幹事＞：田中徹（東北大） - 参加申し込み
お名前、ご所属、連絡先（e-mailおよびTEL）をナノテクノロジーフォーラム事務局までご連絡ください。
締切：2013年7月19日（金） - 主催
電気学会 ナノエレクトロニクス集積化・応用技術調査専門委員会 - 共催
電気学会 クラウド時代 のユビキタス電子デバイス調査専門委員会
早稲田大学ナノテクフォーラム
電気学会 ナノエレクトロニクス集積化・応用技術調査専門委員会
